Supporting Unit Test Generation via Automated Isolation
| Cím | Supporting Unit Test Generation via Automated Isolation |
| Közlemény típusa | Journal Article |
| Kiadás éve | 2017 |
| Szerzők | Honfi, D., and Micskei, Z. |
| Folyóirat | Periodica Polytechnica, Electrical Engineering and Computer Science |
| Kiadás dátuma | 02/2017 |
| ISSN | 2064-5279 |
| URL | https://pp.bme.hu/eecs/article/view/9768 |
| DOI | 10.3311/PPee.9768 |
