Supporting Unit Test Generation via Automated Isolation

CímSupporting Unit Test Generation via Automated Isolation
Közlemény típusaJournal Article
Kiadás éve2017
SzerzőkHonfi, D., and Micskei, Z.
FolyóiratPeriodica Polytechnica, Electrical Engineering and Computer Science
Kiadás dátuma02/2017
ISSN2064-5279
JegyzetekAccepted.
URLhttps://pp.bme.hu/eecs/article/view/9768
DOI10.3311/PPee.9768