Model-based Automatic Test Generation For Event-driven Embedded Systems Using Model Checkers
| Cím | Model-based Automatic Test Generation For Event-driven Embedded Systems Using Model Checkers |
| Közlemény típusa | Conference Paper |
| Kiadás éve | 2006 |
| Szerzők | Micskei, Z., and Majzik, I. |
| Konferencia neve | Proc. of Dependability of Computer Systems |
| Kiadás dátuma | 2006 |
| Kiadó | IEEE Computer Society Press |
| URL | http://doi.ieeecomputersociety.org/10.1109/DEPCOS-RELCOMEX.2006.37 |
